각 배치에 대해 표준 분석 인증서(COA)를 제공합니다. 이는 재료의 구성과 특성이 고객의 목표와 일치하는지 확인하기 위한 것입니다. 또한 최고 수준의 품질 보증 및 재료 특성화를 충족하기 위해 다양한 자체 및 협업 화학 및 구조 분석 서비스를 제공합니다. 이러한 서비스는 표준 제품 품질 관리와 맞춤형 또는 고사양 재료에 대한 고객 평가 요구 사항을 모두 지원합니다.

분석 서비스에는 다음이 포함됩니다:

유도 결합 플라즈마 방출 분광법 또는 질량 분석법(ICP-OES/ICP-MS)

이러한 방법은 분말 및 벌크 재료의 주요 원소 및 미량 원소를 측정하기 위한 정확한 정량 원소 분석에 필수적입니다.

ICP-OES는 신속한 다중 요소 스캔에 이상적입니다.

ICP-MS는 초고순도 금속, 산화물 및 도펀트 화합물에 대해 ppb/ppt 수준까지 초미량 감도를 제공합니다.

3N에서 5N 이상의 순도 등급을 검증하는 데 중요합니다.

GDMS(글로우 방전 질량 분석법)

고순도 고체 내 불순물 분석을 위한 고급 기술입니다.

ppm 미만부터 ppb 수준까지 다양한 감도로 광범위한 원소를 감지합니다.

스퍼터링 타겟, 금속 잉곳 및 반도체 재료의 순도를 검증하는 데 이상적입니다.

직접 고체 샘플링을 지원하여 준비 오류를 최소화합니다.

XRD(X-선 회절)

재료의 결정 구조와 상 순도를 특성화하는 데 사용됩니다.

대상 단계를 식별하고 원치 않는 다형성 또는 보조 단계를 감지합니다.

격자 분석, 입자 크기 추정 및 변형률 평가가 가능합니다.

산화물, 황화물, 칼코게나이드 및 복합 세라믹에 적합합니다.

PSD(입자 크기 분포 – 레이저 회절)

분말 재료의 입자 크기 분포를 정확하게 측정합니다.

D10, D50, D90 값, 스팬 및 전체 분포 곡선을 보고합니다.

소결 거동, 흐름 및 코팅 특성을 최적화하는 데 필수적입니다.

미세 금속 분말, 세라믹 전구체 및 나노 구조 재료에 적합합니다.

SEM(주사 전자 현미경)

표면 형태와 미세 구조의 고해상도 이미지를 제공합니다.

입자 모양, 응집, 다공성 및 표면 텍스처를 표시합니다.

원소 분포 및 성분 분석을 위해 EDS(에너지 분산형 X-선 분광법)와 함께 사용하는 경우가 많습니다.

R&D 및 문제 해결을 지원합니다.

BET (브루노 에멧 테일러 비표면적 분석)

질소 흡착 등온선을 기준으로 비표면적(m²/g)을 측정합니다.

촉매 재료, 다공성 분말 및 배터리 첨가제의 반응성, 다공성 및 표면 관련 특성을 평가하는 데 핵심적인 역할을 합니다.

이온 교환, 가스 저장 또는 표면 코팅과 관련된 애플리케이션에서 특히 중요합니다.

테스트 지원 및 문서화

모든 분석에 대한 자세한 테스트 보고서를 사용할 수 있으며 요청 시 분석 인증서(COA)에 통합할 수 있습니다.

고객별 또는 규제 요건을 충족하기 위해 타사 실험실 테스트 및 검증 서비스를 제공합니다.

기술팀은 테스트 결과를 해석하고 분석에 기반한 재료 최적화를 지원합니다.