ウルマット

酸化ホルミウム

Chemical Name:
酸化ホルミウム
Formula:
Ho2O3
Product No.:
670800
CAS No.:
12055-62-8
EINECS No.:
235-015-3
Form:
スパッタリングターゲット
HazMat:
Product ID Formula Purity Dimension Inquiry
670800ST002 Ho2O3 99.9% (REO) Ø 76.2 mm x 3.175 mm Inquire
670800ST001 Ho2O3 99.9% (REO) Ø 50.8 mm x 3.175 mm Inquire
Product ID
670800ST002
Formula
Ho2O3
Purity
99.9% (REO)
Dimension
Ø 76.2 mm x 3.175 mm
Product ID
670800ST001
Formula
Ho2O3
Purity
99.9% (REO)
Dimension
Ø 50.8 mm x 3.175 mm

酸化ホルミウムスパッタリング・ターゲットの概要

酸化ホルミウムスパッタリングターゲット 、ハイエンドの薄膜形成技術用に設計された機能性セラミック材料です。光学コーティング、光磁気デバイス、マイクロエレクトロニクス部品、レアアース機能膜の作製に広く使用されています。優れた熱安定性、電気絶縁特性、安定した光学応答を持つこの磁気光学デバイス用酸化ホルミウムスパッタリングターゲットは、薄膜の屈折率制御や磁気光学効果の増強が必要な用途に特に適しています。

当社は、円形ターゲット、長方形ターゲット、銅バックプレーンとの複合ターゲットを含む様々なサイズと形状の薄膜蒸着用酸化ホルミウムスパッタリングターゲットを提供しています。純度は最大99.9%で、お客様のプロセス要件に応じて製品を精密にカスタマイズすることができます。また、総合的なアフターサービスを提供し、研究開発から量産までのニーズをサポートします。

酸化ホルミウムスパッタリングターゲット製品ハイライト

優れた熱安定性と膜の安定性
カスタマイズ可能なサイズと複合構造
光磁気ストレージ、光学窓、コーティングフィルター、その他の分野に適用可能
ターゲット結合サービス提供可能

酸化ホルミウムスパッタリング・ターゲットの用途

磁気光学ストレージ材料:Ho₂O₃薄膜は光磁気回転効果が大きく、光磁気記憶媒体の主要材料の一つ。
光学コーティング:赤外および可視光領域の反射率と透過率を調整するために使用され、レーザー部品、窓などに適している。
薄膜センサー:安定した誘電特性と化学的不活性を有し、ガスセンサーや高温検出フィルムに適している。
マイクロエレクトロニクスデバイス電気絶縁や希土類機能性複合材料を必要とするプロセスにおいて、Ho₂O₃は優れた熱安定性と信頼性の高い膜質を提供します。

レポート

お客様が信頼できる製品品質と技術情報を入手できるよう、製品バッチごとに完全な分析証明書(COA)、製品安全データシート(MSDS)およびその他の必要書類を提供し、第三者試験サービスをサポートします。

分子式Ho₂O₃
分子量:377.86 g/mol
外観淡黄色セラミックターゲット
密度:8.41 g/cm³
融点:2,415 °C(優れた高温安定性)
沸点:3,900 °C(揮発しにくく、高温スパッタリングに適している)
結晶構造:立方晶(C型希土類酸化物構造)

シグナルワード
なし
ハザードステートメント
なし

包装:コンタミネーションや湿気から保護するため、真空パックされている。

外箱サイズと重量に応じて、カートンまたは木箱。

壊れやすい対象物:安全な輸送を確保するため、特別な保護梱包を使用します。

資料

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