ULPMAT

酸化ホウ素

Chemical Name:
酸化ホウ素
Formula:
B2O3
Product No.:
050800
CAS No.:
1303-86-2
EINECS No.:
215-125-8
Form:
スパッタリングターゲット
HazMat:
Product ID Formula Purity Dimension Inquiry
050800ST001 B2O3 99.9% Ø 50.8mm x 6.35mm Inquire
Product ID
050800ST001
Formula
B2O3
Purity
99.9%
Dimension
Ø 50.8mm x 6.35mm

酸化ホウ素スパッタリングターゲット概要
酸化

ホウ素
スパッタリングターゲット

、酸化ホウ素を主成分とする機能性セラミックターゲットであり、非金属酸化物薄膜の作製に適しています。これらのターゲットは、エレクトロニクス、光学、機能性コーティングに関連する薄膜堆積研究で一般的に使用されます。

お客様の装置タイプとプロセス条件に基づき、適合する酸化ホウ素スパッタリングターゲットを提供可能です。カスタマイズ仕様にも対応いたします。 ソリューションと価格については直接お問い合わせ
ください。

製品の特徴

安定したセラミック構造
均一な組成分布
制御可能なスパッタリングプロセス
RFスパッタリングに適応
バックプレーンボンディング対応
研究開発に最適

ホウ素酸化物スパッタリングターゲットの応用分野

酸化物機能性薄膜成膜:ホウ素酸化物含有薄膜の作製に使用可能。薄膜の組成や構造に要求がある用途に適しています。
電子・絶縁薄膜研究:電子材料分野において、絶縁層または機能層薄膜の成膜および性能評価に使用可能。
光学
・保護コーティング研究:酸化ホウ素薄膜は光学および表面保護において研究価値があり、関連コーティング実験に適したターゲット。
スパッタリングプロセス及びパラメータ検証:本ターゲットは、RFスパッタリング条件下でのプロセスウィンドウ試験(電力、雰囲気、成膜速度の最適化など)に一般的に使用されます。

よくある質問

Q1: RFスパッタリングに適していますか?
A1: はい、酸化ホウ素はセラミック材料であり、通常RFスパッタリングで成膜されます。

Q2: ターゲットはバックプレートにボンディングできますか?
A2: はい、安定性向上のため一般的な金属バックプレートとのボンディングが可能です。

Q3: カスタム非標準サイズは対応可能ですか?
A3: はい、スパッタリング装置のサイズや使用要件に応じて加工可能です。

Q4: 小ロットまたはサンプル調達は可能ですか?
A4: はい、研究およびプロセス開発段階に適しています。

報告書

各バッチには以下が付属します:
分析証明書(COA)

技術データシート(TDS)

物質安全データシート(MSDS)
サイズ検査報告書
第三者機関の試験報告書はご要望に応じて提供可能です

当社を選ぶ理由

酸化物セラミックスパッタリングターゲットの加工・供給において豊富な経験を有しており、お客様のプロセス要件を迅速に理解し、仕様確認・納期対応・材料安定性において効率的なサポートを提供します。これにより、お客様の研究開発サイクルの短縮と試行錯誤コストの削減に貢献します。

分子式B₂O₃
分子量:69.62 g/mol
外観白色、緻密なターゲットブロック
密度: 2.46-2.50 g/cm³
融点: 450 °C
沸点:1860 °C
結晶構造単斜晶(結晶形); 不規則な格子を持つアモルファスターゲット

内包装:汚染や湿気を防ぐため、真空パック袋に入れ、箱詰めします。

外包装:サイズと重量に基づき、カートンまたは木箱を選択します。

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