{"id":59666,"date":"2026-10-22T16:48:58","date_gmt":"2026-10-22T08:48:58","guid":{"rendered":"https:\/\/ulpmat.com\/difetti-nei-film-sottili-cigs-7-problemi-relativi-ai-materiali-e-ai-processi-da-verificare\/"},"modified":"2026-10-23T09:43:19","modified_gmt":"2026-10-23T01:43:19","slug":"difetti-nei-film-sottili-cigs-7-problemi-relativi-ai-materiali-e-ai-processi-da-verificare","status":"publish","type":"post","link":"https:\/\/ulpmat.com\/it\/difetti-nei-film-sottili-cigs-7-problemi-relativi-ai-materiali-e-ai-processi-da-verificare\/","title":{"rendered":"Difetti nei film sottili CIGS: 7 problemi relativi ai materiali e ai processi da verificare"},"content":{"rendered":"\t\t<div data-elementor-type=\"wp-post\" data-elementor-id=\"59666\" class=\"elementor elementor-59666 elementor-59635\" data-elementor-post-type=\"post\">\n\t\t\t\t<div class=\"elementor-element elementor-element-8fffc38 e-flex e-con-boxed e-con e-parent\" data-id=\"8fffc38\" data-element_type=\"container\" data-e-type=\"container\">\n\t\t\t\t\t<div class=\"e-con-inner\">\n\t\t\t\t<div class=\"elementor-element elementor-element-0a979a7 elementor-widget elementor-widget-text-editor\" data-id=\"0a979a7\" data-element_type=\"widget\" data-e-type=\"widget\" data-widget_type=\"text-editor.default\">\n\t\t\t\t<div class=\"elementor-widget-container\">\n\t\t\t\t\t\t\t\t\t<p>I difetti dei film sottili CIGS possono essere difficili da diagnosticare perch\u00e9 lo stesso problema visibile pu\u00f2 avere diverse cause, tra cui la composizione del materiale, la contaminazione, la preparazione del substrato e le condizioni di deposizione. Per gli ingegneri che sviluppano o producono <span style=\"color: #0000ff;\"><a style=\"color: #0000ff;\" href=\"https:\/\/ulpmat.com\/it\/prodotto\/seleniuro-di-rame-indio-e-gallio-cigs\/\">cellule solari in seleniuro di rame, indio e gallio (CIGS)<\/a> <\/span>, la chiave sta nell\u2019identificare quali variabili sono cambiate prima di modificare l\u2019intero processo.<\/p><p>Un film con scarsa uniformit\u00e0, composizione inaspettata, fori o prestazioni elettriche incostanti non indica automaticamente la presenza di una materia prima difettosa. Tuttavia, la qualit\u00e0 e l\u2019uniformit\u00e0 del materiale dovrebbero essere tra i primi fattori da verificare.<\/p>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<div class=\"elementor-element elementor-element-3044b6b elementor-widget elementor-widget-heading\" data-id=\"3044b6b\" data-element_type=\"widget\" data-e-type=\"widget\" data-widget_type=\"heading.default\">\n\t\t\t\t<div class=\"elementor-widget-container\">\n\t\t\t\t\t<h2 class=\"elementor-heading-title elementor-size-default\">1. Perch\u00e9 la composizione del vostro film CIGS continua a cambiare?<\/h2>\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<div class=\"elementor-element elementor-element-41e2218 elementor-widget elementor-widget-text-editor\" data-id=\"41e2218\" data-element_type=\"widget\" data-e-type=\"widget\" data-widget_type=\"text-editor.default\">\n\t\t\t\t<div class=\"elementor-widget-container\">\n\t\t\t\t\t\t\t\t\t<p><span style=\"color: #0000ff;\"><a style=\"color: #0000ff;\" href=\"https:\/\/ulpmat.com\/it\/prodotto\/seleniuro-di-rame-indio-e-gallio-cigs\/\">Il CIGS<\/a><\/span> \u00e8 un semiconduttore multicomponente comunemente rappresentato dalla formula Cu(In,Ga)Se\u2082. Le sue propriet\u00e0 dipendono dalle quantit\u00e0 relative e dalla distribuzione del <span style=\"color: #0000ff;\"><a style=\"color: #0000ff;\" href=\"https:\/\/ulpmat.com\/it\/prodotto\/metallo-di-rame-2\/\">rame<\/a><\/span>, <span style=\"color: #0000ff;\"><a style=\"color: #0000ff;\" href=\"https:\/\/ulpmat.com\/it\/prodotto\/indio-metallico\/\">indio<\/a><\/span>, <span style=\"color: #0000ff;\"><a style=\"color: #0000ff;\" href=\"https:\/\/ulpmat.com\/it\/prodotto\/gallio-metallico-2\/\">gallio<\/a><\/span>e <span style=\"color: #0000ff;\"><a style=\"color: #0000ff;\" href=\"https:\/\/ulpmat.com\/it\/prodotto\/selenio-metallico\/\">selenio<\/a><\/span>, nonch\u00e9 la struttura e la storia di lavorazione del film. Una deviazione nella composizione pu\u00f2 influire sulle propriet\u00e0 elettroniche dello strato assorbente e sulle prestazioni del dispositivo. La sfida consiste nel fatto che la composizione del materiale di partenza non corrisponde necessariamente alla composizione del film depositato.<\/p><p data-pm-slice=\"1 1 []\"><strong>Cosa pu\u00f2 causare il problema?<\/strong><\/p><ul data-spread=\"false\"><li><p>Differenze tra la composizione nominale del materiale e quella misurata.<\/p><\/li><li><p>Tassi di deposizione o di incorporazione diversi per i singoli elementi.<\/p><\/li><li><p>Perdita di selenio o insufficiente apporto di selenio durante la lavorazione.<\/p><\/li><li><p>Variazioni della temperatura del substrato, delle condizioni della sorgente o dei tempi di processo.<\/p><\/li><li><p>Composizione non uniforme sul substrato o lungo lo spessore del film.<\/p><\/li><\/ul><p><strong>Come \u00e8 possibile indagare su questo aspetto<\/strong><\/p><p>Iniziare misurando il film depositato anzich\u00e9 affidarsi esclusivamente alle specifiche della materia prima. A seconda della fase di sviluppo, tecniche quali <span style=\"color: #0000ff;\"><a style=\"color: #0000ff;\" href=\"https:\/\/en.wikipedia.org\/wiki\/X-ray_fluorescence\" target=\"_blank\" rel=\"noopener\">come la fluorescenza a raggi X (XRF),<\/a><\/span> spettroscopia a raggi X a dispersione di energia (EDS) o altri metodi analitici convalidati possono aiutare a stabilire la composizione elementare.<\/p><p>Confrontare i risultati ottenuti in diverse posizioni del substrato e, se del caso, a diverse profondit\u00e0. Verificare se la deviazione \u00e8 sistematica o limitata a una zona specifica.<\/p><p>\u00c8 inoltre importante distinguere un problema relativo al rapporto rame\/indio pi\u00f9 gallio da un problema relativo al rapporto gallio\/indio. Essi descrivono aspetti diversi della composizione e non devono essere considerati intercambiabili.<\/p><p><strong>Domanda al fornitore:<\/strong> \u00c8 possibile fornire un certificato di analisi, la composizione nominale, il metodo analitico utilizzato e i limiti di accettazione applicabili per il materiale fornito?<\/p>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<div class=\"elementor-element elementor-element-35d3570 elementor-widget elementor-widget-image\" data-id=\"35d3570\" data-element_type=\"widget\" data-e-type=\"widget\" data-widget_type=\"image.default\">\n\t\t\t\t<div class=\"elementor-widget-container\">\n\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t<img fetchpriority=\"high\" decoding=\"async\" width=\"800\" height=\"450\" src=\"https:\/\/ulpmat.com\/wp-content\/uploads\/2026\/10\/cigs-thin-film-composition-uniformity.png\" class=\"attachment-large size-large wp-image-59667\" alt=\"Composizione del film sottile CIGS e uniformit\u00e0 su tutto il substrato - ULPMAT\" srcset=\"https:\/\/ulpmat.com\/wp-content\/uploads\/2026\/10\/cigs-thin-film-composition-uniformity.png 889w, https:\/\/ulpmat.com\/wp-content\/uploads\/2026\/10\/cigs-thin-film-composition-uniformity-300x169.png 300w, https:\/\/ulpmat.com\/wp-content\/uploads\/2026\/10\/cigs-thin-film-composition-uniformity-768x432.png 768w, https:\/\/ulpmat.com\/wp-content\/uploads\/2026\/10\/cigs-thin-film-composition-uniformity-600x337.png 600w\" sizes=\"(max-width: 800px) 100vw, 800px\" \/>\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<div class=\"elementor-element elementor-element-b759701 elementor-widget elementor-widget-heading\" data-id=\"b759701\" data-element_type=\"widget\" data-e-type=\"widget\" data-widget_type=\"heading.default\">\n\t\t\t\t<div class=\"elementor-widget-container\">\n\t\t\t\t\t<h2 class=\"elementor-heading-title elementor-size-default\">2. Perch\u00e9 il vostro film sottile CIGS presenta irregolarit\u00e0 sul substrato?<\/h2>\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<div class=\"elementor-element elementor-element-60fd70d elementor-widget elementor-widget-text-editor\" data-id=\"60fd70d\" data-element_type=\"widget\" data-e-type=\"widget\" data-widget_type=\"text-editor.default\">\n\t\t\t\t<div class=\"elementor-widget-container\">\n\t\t\t\t\t\t\t\t\t<p>Un film pu\u00f2 apparire soddisfacente in una zona, ma presentare spessori, composizione o caratteristiche superficiali diversi in altre. Ci\u00f2 assume particolare importanza quando si passa da piccoli campioni di laboratorio a substrati pi\u00f9 grandi o a cicli di produzione ripetuti. L\u2019uniformit\u00e0 dipende dall\u2019interazione tra la fonte del materiale, la geometria delle apparecchiature, il movimento del substrato e le condizioni di deposizione. Non \u00e8 determinata esclusivamente dalla qualit\u00e0 della materia prima.<\/p><p data-pm-slice=\"1 1 []\"><strong>Tra le possibili cause figurano:<\/strong><\/p><ul data-spread=\"false\"><li><p>Geometria irregolare tra la fonte e il substrato o flusso irregolare del materiale.<\/p><\/li><li><p>Differenze di temperatura del substrato nell\u2019area di deposizione.<\/p><\/li><li><p>Distribuzione non uniforme del precursore o condizioni di reazione.<\/p><\/li><li><p>Variazioni delle condizioni della sorgente durante la deposizione.<\/p><\/li><li><p>Variazioni nella preparazione del substrato o nelle condizioni della superficie.<\/p><\/li><\/ul><p><strong>Un approccio pratico alla risoluzione dei problemi<\/strong><\/p><p>Mappare il film anzich\u00e9 affidarsi a un unico punto di misurazione. Misurare lo spessore e la composizione in posizioni costanti, quali il centro, i bordi e gli angoli del substrato.<\/p><p>Confrontare quindi le mappe risultanti con la configurazione dell\u2019apparecchiatura e la cronologia del processo. Se lo stesso schema spaziale si ripete, potrebbero essere coinvolti il sistema di deposizione o la distribuzione termica. Se lo schema varia tra i lotti di materiale, \u00e8 opportuno esaminare pi\u00f9 da vicino l\u2019uniformit\u00e0 della sorgente e la movimentazione del materiale.<\/p><p>Per i processi basati sullo sputtering, gli ingegneri dovrebbero inoltre esaminare le condizioni del bersaglio, i modelli di erosione, i parametri operativi e la geometria dell\u2019apparecchiatura. Per i processi basati sull\u2019evaporazione, occorre prestare attenzione al comportamento della sorgente e all\u2019erogazione relativa dei diversi elementi.<\/p><p>\u00c8 importante distinguere tra <strong>l\u2019uniformit\u00e0 del materiale<\/strong> e <strong>l\u2019uniformit\u00e0 del processo<\/strong>. Entrambe possono influire sul film finale, ma richiedono azioni correttive diverse.<\/p>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<div class=\"elementor-element elementor-element-80c5410 elementor-widget elementor-widget-heading\" data-id=\"80c5410\" data-element_type=\"widget\" data-e-type=\"widget\" data-widget_type=\"heading.default\">\n\t\t\t\t<div class=\"elementor-widget-container\">\n\t\t\t\t\t<h2 class=\"elementor-heading-title elementor-size-default\">3. Quali sono le cause della formazione di pori e vuoti nei film sottili CIGS?<\/h2>\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<div class=\"elementor-element elementor-element-5a84459 elementor-widget elementor-widget-text-editor\" data-id=\"5a84459\" data-element_type=\"widget\" data-e-type=\"widget\" data-widget_type=\"text-editor.default\">\n\t\t\t\t<div class=\"elementor-widget-container\">\n\t\t\t\t\t\t\t\t\t<p>I fori e le cavit\u00e0 possono interrompere la continuit\u00e0 del film e creare punti di debolezza locali. A seconda delle loro dimensioni, della loro posizione e della struttura del dispositivo, possono influire sul comportamento elettrico, sulla copertura degli strati o sull\u2019uniformit\u00e0 tra i dispositivi. Questi difetti possono avere origine in diverse fasi del processo. Possono essere associati alla contaminazione del substrato, alla rugosit\u00e0 superficiale, alla morfologia dei precursori, alla crescita incompleta del film o a condizioni di lavorazione inadeguate.<\/p><p data-pm-slice=\"1 1 []\"><strong>Da cosa iniziare la verifica?<\/strong><\/p><ol start=\"1\" data-spread=\"false\"><li><p>Ispezionare il substrato prima della deposizione per individuare eventuali particelle, residui e danni superficiali.<\/p><\/li><li><p>Confrontare la distribuzione dei difetti con le posizioni del substrato e la cronologia del processo.<\/p><\/li><li><p>Esaminare il film utilizzando un microscopio adeguato per distinguere le particelle superficiali dai vuoti effettivi o dalle aree non coperte.<\/p><\/li><li><p>Confrontare campioni preparati in condizioni di processo diverse, modificando una variabile alla volta.<\/p><\/li><li><p>Verificare se i difetti sono correlati ai lotti di materiale o se compaiono in tutti i lotti.<\/p><\/li><\/ol><p>Non dare per scontato che ogni forellino abbia origine nel materiale in entrata. Un substrato contaminato o una condizione di deposizione che produce una copertura insufficiente pu\u00f2 generare sintomi simili.<\/p><p>Le ricerche pubblicate sulla crescita dei film CIGS hanno trattato la formazione di vuoti e la disomogeneit\u00e0 compositiva, compresa la loro evoluzione durante la deposizione e il loro potenziale impatto sulle prestazioni dei dispositivi. Ci\u00f2 avvalora l\u2019approccio di considerare la morfologia del film come una questione di controllo di processo, piuttosto che giudicare l\u2019idoneit\u00e0 del materiale basandosi esclusivamente sull\u2019aspetto.<\/p><p><strong>Domanda al fornitore:<\/strong> Quali controlli fisici, di movimentazione e di imballaggio vengono utilizzati per ridurre il rischio di particelle estranee o di contaminazione del materiale?<\/p>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<div class=\"elementor-element elementor-element-1c7dd2b elementor-widget elementor-widget-image\" data-id=\"1c7dd2b\" data-element_type=\"widget\" data-e-type=\"widget\" data-widget_type=\"image.default\">\n\t\t\t\t<div class=\"elementor-widget-container\">\n\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t<img decoding=\"async\" width=\"800\" height=\"450\" src=\"https:\/\/ulpmat.com\/wp-content\/uploads\/2026\/10\/cigs-thin-film-pinhole-void-morphology.png\" class=\"attachment-large size-large wp-image-59668\" alt=\"Immagine al SEM dei fori, delle cavit\u00e0 e della morfologia superficiale in un film sottile di CIGS-ULPMAT\" srcset=\"https:\/\/ulpmat.com\/wp-content\/uploads\/2026\/10\/cigs-thin-film-pinhole-void-morphology.png 889w, https:\/\/ulpmat.com\/wp-content\/uploads\/2026\/10\/cigs-thin-film-pinhole-void-morphology-300x169.png 300w, https:\/\/ulpmat.com\/wp-content\/uploads\/2026\/10\/cigs-thin-film-pinhole-void-morphology-768x432.png 768w, https:\/\/ulpmat.com\/wp-content\/uploads\/2026\/10\/cigs-thin-film-pinhole-void-morphology-600x337.png 600w\" sizes=\"(max-width: 800px) 100vw, 800px\" \/>\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<div class=\"elementor-element elementor-element-51947b0 elementor-widget elementor-widget-heading\" data-id=\"51947b0\" data-element_type=\"widget\" data-e-type=\"widget\" data-widget_type=\"heading.default\">\n\t\t\t\t<div class=\"elementor-widget-container\">\n\t\t\t\t\t<h2 class=\"elementor-heading-title elementor-size-default\">4. Le tracce di impurit\u00e0 possono influire sulla qualit\u00e0 del film CIGS?<\/h2>\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<div class=\"elementor-element elementor-element-d796c74 elementor-widget elementor-widget-text-editor\" data-id=\"d796c74\" data-element_type=\"widget\" data-e-type=\"widget\" data-widget_type=\"text-editor.default\">\n\t\t\t\t<div class=\"elementor-widget-container\">\n\t\t\t\t\t\t\t\t\t<p>Le impurit\u00e0 in tracce possono avere un ruolo importante nella lavorazione dei semiconduttori, ma la loro rilevanza dipende dall\u2019elemento, dalla concentrazione, dalla posizione e dalla struttura del dispositivo. La presenza di un\u2019impurit\u00e0 rilevata non implica automaticamente che il materiale sia difettoso, cos\u00ec come un\u2019elevata purezza nominale non garantisce che il film depositato sia privo di difetti. Tra le potenziali fonti di contaminazione figurano le materie prime, le apparecchiature di lavorazione, i crogioli o i supporti, le superfici dei substrati, gli imballaggi e gli strumenti di manipolazione.<\/p><p data-pm-slice=\"1 1 []\"><strong>Un errore comune nella risoluzione dei problemi<\/strong><\/p><p>Quando un film presenta prestazioni insoddisfacenti, gli ingegneri potrebbero concentrarsi immediatamente sulla percentuale di purezza indicata nella scheda tecnica. Tale dato \u00e8 utile, ma non fornisce un quadro completo della situazione. Fornitori diversi possono utilizzare metodi analitici, limiti di rilevamento e convenzioni differenti per la segnalazione delle impurit\u00e0.<\/p><p>Una valutazione pi\u00f9 utile include:<\/p><ul data-spread=\"false\"><li><p>La purezza dichiarata e il modo in cui viene calcolata.<\/p><\/li><li><p>La tecnica analitica e i limiti di rilevabilit\u00e0, ove disponibili.<\/p><\/li><li><p>Dati rilevanti sulle impurit\u00e0, anzich\u00e9 limitarsi a un&#8217;unica percentuale complessiva.<\/p><\/li><li><p>Se il risultato si riferisce a un campione rappresentativo o a un lotto specifico.<\/p><\/li><li><p>Le condizioni di confezionamento e stoccaggio utilizzate prima della consegna.<\/p><\/li><\/ul><p>Se si sospetta una contaminazione, confrontare il materiale in entrata, l\u2019ambiente di processo e il film depositato, ove opportuno. Utilizzare metodi analitici adatti al contaminante sospettato; una singola tecnica potrebbe non rilevare tutti gli elementi alla concentrazione richiesta.<\/p><p><strong>Domanda al fornitore:<\/strong> quali impurit\u00e0 vengono misurate, quali non vengono misurate di routine e quali limiti di segnalazione si applicano al materiale fornito?<\/p><p>Queste informazioni aiutano gli ingegneri a valutare se una specifica \u00e8 adeguata al loro processo, anzich\u00e9 limitarsi a confrontare i valori di purezza senza considerare come sono stati ottenuti.<\/p>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<div class=\"elementor-element elementor-element-7335ede elementor-widget elementor-widget-heading\" data-id=\"7335ede\" data-element_type=\"widget\" data-e-type=\"widget\" data-widget_type=\"heading.default\">\n\t\t\t\t<div class=\"elementor-widget-container\">\n\t\t\t\t\t<h2 class=\"elementor-heading-title elementor-size-default\">5. Perch\u00e9 \u00e8 difficile controllare la morfologia dei film CIGS?<\/h2>\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<div class=\"elementor-element elementor-element-89bc25e elementor-widget elementor-widget-text-editor\" data-id=\"89bc25e\" data-element_type=\"widget\" data-e-type=\"widget\" data-widget_type=\"text-editor.default\">\n\t\t\t\t<div class=\"elementor-widget-container\">\n\t\t\t\t\t\t\t\t\t<p data-pm-slice=\"1 1 []\">La microstruttura di un assorbitore CIGS pu\u00f2 influenzare il comportamento del film in un dispositivo finito. La struttura granulare, i vuoti, le fasi secondarie e la distribuzione composizionale possono essere tutti fattori rilevanti, a seconda del metodo di deposizione e della lavorazione successiva. Tuttavia, la dimensione delle particelle di una polvere o la densit\u00e0 fisica di un target non dovrebbero essere considerate come un indicatore diretto della dimensione dei grani o della qualit\u00e0 del film CIGS finale.<\/p><p>La relazione tra il materiale di partenza e la microstruttura depositata dipende dall\u2019intero processo.<\/p><p>Ad esempio, un precursore depositato in determinate condizioni pu\u00f2 evolversi in modo diverso rispetto a un precursore simile trattato a un\u2019altra temperatura o in un ambiente con una diversa concentrazione di selenio. La composizione iniziale \u00e8 solo una parte della spiegazione.<\/p><p><strong>Come affrontare il problema<\/strong><\/p><p>In primo luogo, stabilire una linea di base ripetibile utilizzando il processo esistente. Registrare la preparazione del substrato, il lotto di materiale, i parametri di deposizione, il trattamento post-deposizione e le misurazioni rilevanti del film.<\/p><p>Successivamente, utilizzare la microscopia e l\u2019analisi composizionale per determinare se il cambiamento osservato sia principalmente morfologico, chimico o entrambi. Se il difetto compare solo dopo uno specifico trattamento termico, indagare su quella fase piuttosto che cambiare immediatamente il materiale in entrata.<\/p><p>Le revisioni scientifiche sulla fabbricazione del CIGS descrivono come i percorsi di deposizione e le condizioni di processo influenzino la formazione del film e le sfide legate al mantenimento della composizione e della qualit\u00e0 durante il scale-up.<\/p><p>La lezione pratica \u00e8 chiara: le specifiche dei materiali devono essere valutate insieme alla compatibilit\u00e0 con il processo. Un materiale che funziona in un determinato percorso di deposizione potrebbe richiedere una valutazione diversa prima di essere utilizzato in un altro.<\/p>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<div class=\"elementor-element elementor-element-c615a87 elementor-widget elementor-widget-heading\" data-id=\"c615a87\" data-element_type=\"widget\" data-e-type=\"widget\" data-widget_type=\"heading.default\">\n\t\t\t\t<div class=\"elementor-widget-container\">\n\t\t\t\t\t<h2 class=\"elementor-heading-title elementor-size-default\">6. Come \u00e8 possibile ridurre la variabilit\u00e0 tra i lotti nei materiali CIGS?<\/h2>\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<div class=\"elementor-element elementor-element-705794f elementor-widget elementor-widget-text-editor\" data-id=\"705794f\" data-element_type=\"widget\" data-e-type=\"widget\" data-widget_type=\"text-editor.default\">\n\t\t\t\t<div class=\"elementor-widget-container\">\n\t\t\t\t\t\t\t\t\t<p data-pm-slice=\"1 1 []\">Un materiale pu\u00f2 soddisfare le specifiche dichiarate e tuttavia creare difficolt\u00e0 se caratteristiche importanti variano da una fornitura all\u2019altra. Per i gruppi di ricerca, ci\u00f2 pu\u00f2 rendere difficile la riproducibilit\u00e0 degli esperimenti. Per i produttori, pu\u00f2 complicare il controllo dei processi e l\u2019analisi della resa.<\/p><p>L\u2019uniformit\u00e0 dei lotti non \u00e8 semplicemente una questione di conformit\u00e0 o meno del prodotto a una singola specifica. Riguarda anche il fatto che le caratteristiche misurate rimangano entro i limiti tollerabili dal processo.<\/p><p>A seconda della forma e dell\u2019applicazione del materiale, le caratteristiche rilevanti possono includere la composizione, i livelli di impurit\u00e0, le dimensioni, la densit\u00e0, le condizioni fisiche o altri parametri concordati con il fornitore.<\/p><p><strong>Come verificare l\u2019uniformit\u00e0<\/strong><\/p><p>Tenere un registro che colleghi ogni lotto di materiale al relativo ciclo di lavorazione e alle misurazioni del film risultanti. Ove possibile, confrontare pi\u00f9 lotti utilizzando lo stesso processo consolidato.<\/p><p>Se si verifica un cambiamento nelle prestazioni, esaminare i registri prima di modificare il processo. Una correlazione tra un lotto e un difetto del film \u00e8 un motivo per indagare, non una prova che il lotto abbia causato il difetto.<\/p><p>Chiedere ai fornitori come vengono identificati i lotti, quali caratteristiche vengono misurate per ciascun lotto e se \u00e8 possibile fornire certificati di analisi in modo sistematico.<\/p><p>Per le applicazioni critiche, concordare i criteri di accettazione prima dell\u2019acquisto. Ci\u00f2 riduce il rischio di scoprire, dopo la consegna, che il fornitore e il team di ingegneri interpretano una specifica in modo diverso.<\/p>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<div class=\"elementor-element elementor-element-b35f8d8 elementor-widget elementor-widget-heading\" data-id=\"b35f8d8\" data-element_type=\"widget\" data-e-type=\"widget\" data-widget_type=\"heading.default\">\n\t\t\t\t<div class=\"elementor-widget-container\">\n\t\t\t\t\t<h2 class=\"elementor-heading-title elementor-size-default\">7. Polvere CIGS o bersaglio di sputtering: quale forma del materiale \u00e8 pi\u00f9 adatta al vostro processo?<\/h2>\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<div class=\"elementor-element elementor-element-ea8e977 elementor-widget elementor-widget-text-editor\" data-id=\"ea8e977\" data-element_type=\"widget\" data-e-type=\"widget\" data-widget_type=\"text-editor.default\">\n\t\t\t\t<div class=\"elementor-widget-container\">\n\t\t\t\t\t\t\t\t\t<p data-pm-slice=\"1 1 []\">Uno dei problemi pi\u00f9 facilmente evitabili nell\u2019approvvigionamento consiste nello scegliere un materiale senza verificare che la sua forma sia compatibile con il processo previsto.<\/p><p>I materiali relativi al CIGS possono essere forniti in diverse forme, tra cui polveri e bersagli per sputtering. Questi non sono automaticamente intercambiabili. Non si pu\u00f2 dare per scontato che una polvere destinata a un particolare precursore o percorso di lavorazione abbia le stesse prestazioni di un bersaglio utilizzato in un sistema di sputtering.<\/p><p>La scelta corretta dipende dal metodo di deposizione, dalla progettazione delle apparecchiature, dalla sequenza di processo e dalle specifiche richieste per il materiale.<\/p><p><strong>Prima di richiedere un preventivo, chiarire quanto segue:<\/strong><\/p><ul data-spread=\"false\"><li><p>Il processo si basa sullo sputtering, sull\u2019evaporazione, su un percorso a precursori o su un altro metodo?<\/p><\/li><li><p>Il prodotto richiesto \u00e8 un materiale composto o un insieme di fonti elementari?<\/p><\/li><li><p>Quali sono la composizione e la tolleranza richieste?<\/p><\/li><li><p>Esistono requisiti dimensionali, fisici o specifici per le apparecchiature?<\/p><\/li><li><p>Quali documenti analitici e informazioni di tracciabilit\u00e0 sono richiesti?<\/p><\/li><\/ul><p>Per i target di sputtering, gli ingegneri potrebbero dover confermare le dimensioni, i requisiti di incollaggio, ove applicabile, e altre specifiche compatibili con il sistema. Per le applicazioni a base di polveri, i requisiti rilevanti potrebbero invece includere la composizione, la distribuzione granulometrica, i limiti di impurit\u00e0 e le condizioni di manipolazione.<\/p><p>Questi dettagli devono essere verificati in base alle specifiche effettive del prodotto fornite dal fornitore. Non devono essere dedotti dall\u2019etichetta generica \u201cmateriale CIGS\u201d.<\/p><p>Per confrontare le forme e le specifiche dei materiali disponibili, gli ingegneri possono consultare l\u2019 <span style=\"color: #0000ff;\"><a style=\"color: #0000ff;\" href=\"https:\/\/ulpmat.com\/it\/ricerca\/?type=name&#038;keyword=CIGS\">elenco dei prodotti CIGS di ULPMAT<\/a><\/span> e individuare le opzioni pertinenti al processo che intendono utilizzare.<\/p>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<div class=\"elementor-element elementor-element-05921f9 elementor-widget elementor-widget-image\" data-id=\"05921f9\" data-element_type=\"widget\" data-e-type=\"widget\" data-widget_type=\"image.default\">\n\t\t\t\t<div class=\"elementor-widget-container\">\n\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t<img decoding=\"async\" width=\"478\" height=\"500\" src=\"https:\/\/ulpmat.com\/wp-content\/uploads\/2026\/10\/CIGS-Sputtering-Target-ULPMAT.jpg\" class=\"attachment-large size-large wp-image-59669\" alt=\"Target di sputtering CIGS per la deposizione di film sottili - ULPMAT\" srcset=\"https:\/\/ulpmat.com\/wp-content\/uploads\/2026\/10\/CIGS-Sputtering-Target-ULPMAT.jpg 478w, https:\/\/ulpmat.com\/wp-content\/uploads\/2026\/10\/CIGS-Sputtering-Target-ULPMAT-287x300.jpg 287w\" sizes=\"(max-width: 478px) 100vw, 478px\" \/>\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<div class=\"elementor-element elementor-element-5786d22 elementor-widget elementor-widget-heading\" data-id=\"5786d22\" data-element_type=\"widget\" data-e-type=\"widget\" data-widget_type=\"heading.default\">\n\t\t\t\t<div class=\"elementor-widget-container\">\n\t\t\t\t\t<h2 class=\"elementor-heading-title elementor-size-default\">8. Cosa dovrebbero verificare gli ingegneri prima di ordinare materiali CIGS?<\/h2>\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<div class=\"elementor-element elementor-element-3c179a3 elementor-widget elementor-widget-text-editor\" data-id=\"3c179a3\" data-element_type=\"widget\" data-e-type=\"widget\" data-widget_type=\"text-editor.default\">\n\t\t\t\t<div class=\"elementor-widget-container\">\n\t\t\t\t\t\t\t\t\t<p data-pm-slice=\"1 1 []\">Prima di approvare un nuovo materiale o fornitore, utilizzare la seguente lista di controllo per ridurre le incertezze evitabili.<\/p><p><strong>Applicazione e compatibilit\u00e0<\/strong><\/p><div class=\"task-list-item-content\"><ul style=\"list-style-type: square;\"><li>Il percorso di deposizione previsto \u00e8 stato chiaramente identificato.<\/li><li>La forma del materiale richiesta \u00e8 compatibile con le attrezzature e il processo.<\/li><li>Sono stati definiti i requisiti di composizione e le tolleranze accettabili.<\/li><\/ul><\/div><p><strong>Documentazione sulla qualit\u00e0<\/strong><\/p><ul style=\"list-style-type: square;\"><li>Il fornitore ha fornito la scheda tecnica disponibile.<\/li><li>Sono stati esaminati il certificato di analisi e i relativi metodi di prova.<\/li><li>Sono stati compresi i requisiti relativi alla segnalazione delle impurit\u00e0 e ai limiti analitici.<\/li><li>Sono stati concordati i requisiti di identificazione e tracciabilit\u00e0 dei lotti.<\/li><\/ul><p><strong>Convalida ingegneristica<\/strong><\/p><div class=\"task-list-item-content\"><ul style=\"list-style-type: square;\"><li>Ove possibile, \u00e8 disponibile un campione di riferimento o un lotto di riferimento.<\/li><li>La composizione, lo spessore e la morfologia del film saranno misurati utilizzando metodi appropriati.<\/li><li>I criteri di accettazione si basano sull&#8217;applicazione prevista.<\/li><li>Qualsiasi prova dovr\u00e0 seguire un processo documentato, in modo che i risultati possano essere confrontati in modo equo.<\/li><\/ul><\/div><p>Una breve revisione tecnica prima dell\u2019ordine pu\u00f2 far risparmiare tempo in seguito, evitando discrepanze tra il materiale consegnato e quello effettivamente richiesto dal processo.<\/p>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<div class=\"elementor-element elementor-element-1b47ed5 elementor-widget elementor-widget-heading\" data-id=\"1b47ed5\" data-element_type=\"widget\" data-e-type=\"widget\" data-widget_type=\"heading.default\">\n\t\t\t\t<div class=\"elementor-widget-container\">\n\t\t\t\t\t<h2 class=\"elementor-heading-title elementor-size-default\">Conclusione finale: scegliete con attenzione i materiali CIGS<\/h2>\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<div class=\"elementor-element elementor-element-49026b2 elementor-widget elementor-widget-text-editor\" data-id=\"49026b2\" data-element_type=\"widget\" data-e-type=\"widget\" data-widget_type=\"text-editor.default\">\n\t\t\t\t<div class=\"elementor-widget-container\">\n\t\t\t\t\t\t\t\t\t<p><span style=\"color: #0000ff;\"><a style=\"color: #0000ff;\" href=\"https:\/\/ulpmat.com\/it\/prodotto\/seleniuro-di-rame-indio-e-gallio-cigs-2\/\">CIGS<\/a><\/span> I difetti del film possono derivare dalla qualit\u00e0 del materiale o dalle condizioni di deposizione. Gli ingegneri dovrebbero verificare la composizione, la consistenza e la compatibilit\u00e0 di processo prima di cambiare i materiali.<\/p><p>Noi di <strong>ULPMAT<\/strong> offriamo una gamma di materiali CIGS che gli ingegneri possono valutare. <span style=\"color: #0000ff;\"><a style=\"color: #0000ff;\" href=\"https:\/\/ulpmat.com\/it\/ricerca\/?type=name&#038;keyword=CIGS\">Esplora i nostri materiali CIGS<\/a><\/span> per trovare le opzioni pi\u00f9 adatte alla tua applicazione.<\/p>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<div class=\"elementor-element elementor-element-01aa4a4 elementor-widget elementor-widget-heading\" data-id=\"01aa4a4\" data-element_type=\"widget\" data-e-type=\"widget\" data-widget_type=\"heading.default\">\n\t\t\t\t<div class=\"elementor-widget-container\">\n\t\t\t\t\t<h2 class=\"elementor-heading-title elementor-size-default\">Domande frequenti<\/h2>\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<div class=\"elementor-element elementor-element-b4fbff6 elementor-widget elementor-widget-eael-adv-accordion\" data-id=\"b4fbff6\" data-element_type=\"widget\" data-e-type=\"widget\" data-widget_type=\"eael-adv-accordion.default\">\n\t\t\t\t<div class=\"elementor-widget-container\">\n\t\t\t\t\t            <div class=\"eael-adv-accordion\" id=\"eael-adv-accordion-b4fbff6\" data-scroll-on-click=\"no\" data-scroll-speed=\"300\" data-accordion-id=\"b4fbff6\" data-accordion-type=\"accordion\" data-toogle-speed=\"300\">\n            <div class=\"eael-accordion-list\">\n\t\t\t\t\t<div id=\"1-quali-sono-le-cause-dei-difetti-nei-film-sottili-cigs\" class=\"elementor-tab-title eael-accordion-header\" tabindex=\"0\" data-tab=\"1\" aria-controls=\"elementor-tab-content-1891\"><span class=\"eael-advanced-accordion-icon-closed\"><svg aria-hidden=\"true\" class=\"fa-accordion-icon e-font-icon-svg e-fas-plus\" viewBox=\"0 0 448 512\" xmlns=\"http:\/\/www.w3.org\/2000\/svg\"><path d=\"M416 208H272V64c0-17.67-14.33-32-32-32h-32c-17.67 0-32 14.33-32 32v144H32c-17.67 0-32 14.33-32 32v32c0 17.67 14.33 32 32 32h144v144c0 17.67 14.33 32 32 32h32c17.67 0 32-14.33 32-32V304h144c17.67 0 32-14.33 32-32v-32c0-17.67-14.33-32-32-32z\"><\/path><\/svg><\/span><span class=\"eael-advanced-accordion-icon-opened\"><svg aria-hidden=\"true\" class=\"fa-accordion-icon e-font-icon-svg e-fas-minus\" viewBox=\"0 0 448 512\" xmlns=\"http:\/\/www.w3.org\/2000\/svg\"><path d=\"M416 208H32c-17.67 0-32 14.33-32 32v32c0 17.67 14.33 32 32 32h384c17.67 0 32-14.33 32-32v-32c0-17.67-14.33-32-32-32z\"><\/path><\/svg><\/span><span class=\"eael-accordion-tab-title\">1. Quali sono le cause dei difetti nei film sottili CIGS?<\/span><svg aria-hidden=\"true\" class=\"fa-toggle e-font-icon-svg e-fas-angle-right\" viewBox=\"0 0 256 512\" xmlns=\"http:\/\/www.w3.org\/2000\/svg\"><path d=\"M224.3 273l-136 136c-9.4 9.4-24.6 9.4-33.9 0l-22.6-22.6c-9.4-9.4-9.4-24.6 0-33.9l96.4-96.4-96.4-96.4c-9.4-9.4-9.4-24.6 0-33.9L54.3 103c9.4-9.4 24.6-9.4 33.9 0l136 136c9.5 9.4 9.5 24.6.1 34z\"><\/path><\/svg><\/div><div id=\"elementor-tab-content-1891\" class=\"eael-accordion-content clearfix\" data-tab=\"1\" aria-labelledby=\"1-quali-sono-le-cause-dei-difetti-nei-film-sottili-cigs\"><p>I difetti dei film sottili CIGS possono derivare da variazioni nella composizione, contaminazione del substrato, deposizione non uniforme, condizioni di lavorazione inadeguate o incongruenze nei materiali. Per individuarne la causa \u00e8 necessario procedere alla caratterizzazione del film e a un\u2019analisi del processo di deposizione.<\/p>\n<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div><div class=\"eael-accordion-list\">\n\t\t\t\t\t<div id=\"2-in-che-modo-gli-ingegneri-possono-migliorare-luniformit-dei-film-cigs\" class=\"elementor-tab-title eael-accordion-header\" tabindex=\"0\" data-tab=\"2\" aria-controls=\"elementor-tab-content-1892\"><span class=\"eael-advanced-accordion-icon-closed\"><svg aria-hidden=\"true\" class=\"fa-accordion-icon e-font-icon-svg e-fas-plus\" viewBox=\"0 0 448 512\" xmlns=\"http:\/\/www.w3.org\/2000\/svg\"><path d=\"M416 208H272V64c0-17.67-14.33-32-32-32h-32c-17.67 0-32 14.33-32 32v144H32c-17.67 0-32 14.33-32 32v32c0 17.67 14.33 32 32 32h144v144c0 17.67 14.33 32 32 32h32c17.67 0 32-14.33 32-32V304h144c17.67 0 32-14.33 32-32v-32c0-17.67-14.33-32-32-32z\"><\/path><\/svg><\/span><span class=\"eael-advanced-accordion-icon-opened\"><svg aria-hidden=\"true\" class=\"fa-accordion-icon e-font-icon-svg e-fas-minus\" viewBox=\"0 0 448 512\" xmlns=\"http:\/\/www.w3.org\/2000\/svg\"><path d=\"M416 208H32c-17.67 0-32 14.33-32 32v32c0 17.67 14.33 32 32 32h384c17.67 0 32-14.33 32-32v-32c0-17.67-14.33-32-32-32z\"><\/path><\/svg><\/span><span class=\"eael-accordion-tab-title\">2. In che modo gli ingegneri possono migliorare l'uniformit\u00e0 dei film CIGS?<\/span><svg aria-hidden=\"true\" class=\"fa-toggle e-font-icon-svg e-fas-angle-right\" viewBox=\"0 0 256 512\" xmlns=\"http:\/\/www.w3.org\/2000\/svg\"><path d=\"M224.3 273l-136 136c-9.4 9.4-24.6 9.4-33.9 0l-22.6-22.6c-9.4-9.4-9.4-24.6 0-33.9l96.4-96.4-96.4-96.4c-9.4-9.4-9.4-24.6 0-33.9L54.3 103c9.4-9.4 24.6-9.4 33.9 0l136 136c9.5 9.4 9.5 24.6.1 34z\"><\/path><\/svg><\/div><div id=\"elementor-tab-content-1892\" class=\"eael-accordion-content clearfix\" data-tab=\"2\" aria-labelledby=\"2-in-che-modo-gli-ingegneri-possono-migliorare-luniformit-dei-film-cigs\"><p>Gli ingegneri possono misurare lo spessore e la composizione del film in pi\u00f9 punti del substrato, verificare le condizioni di deposizione e confrontare i risultati tra i diversi cicli di lavorazione. Ci\u00f2 consente di distinguere le disomogeneit\u00e0 legate alle apparecchiature dalle potenziali variazioni del materiale.<\/p>\n<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div><div class=\"eael-accordion-list\">\n\t\t\t\t\t<div id=\"3-cosa-occorre-verificare-nella-scelta-dei-materiali-cigs\" class=\"elementor-tab-title eael-accordion-header\" tabindex=\"0\" data-tab=\"3\" aria-controls=\"elementor-tab-content-1893\"><span class=\"eael-advanced-accordion-icon-closed\"><svg aria-hidden=\"true\" class=\"fa-accordion-icon e-font-icon-svg e-fas-plus\" viewBox=\"0 0 448 512\" xmlns=\"http:\/\/www.w3.org\/2000\/svg\"><path d=\"M416 208H272V64c0-17.67-14.33-32-32-32h-32c-17.67 0-32 14.33-32 32v144H32c-17.67 0-32 14.33-32 32v32c0 17.67 14.33 32 32 32h144v144c0 17.67 14.33 32 32 32h32c17.67 0 32-14.33 32-32V304h144c17.67 0 32-14.33 32-32v-32c0-17.67-14.33-32-32-32z\"><\/path><\/svg><\/span><span class=\"eael-advanced-accordion-icon-opened\"><svg aria-hidden=\"true\" class=\"fa-accordion-icon e-font-icon-svg e-fas-minus\" viewBox=\"0 0 448 512\" xmlns=\"http:\/\/www.w3.org\/2000\/svg\"><path d=\"M416 208H32c-17.67 0-32 14.33-32 32v32c0 17.67 14.33 32 32 32h384c17.67 0 32-14.33 32-32v-32c0-17.67-14.33-32-32-32z\"><\/path><\/svg><\/span><span class=\"eael-accordion-tab-title\">3. Cosa occorre verificare nella scelta dei materiali CIGS?<\/span><svg aria-hidden=\"true\" class=\"fa-toggle e-font-icon-svg e-fas-angle-right\" viewBox=\"0 0 256 512\" xmlns=\"http:\/\/www.w3.org\/2000\/svg\"><path d=\"M224.3 273l-136 136c-9.4 9.4-24.6 9.4-33.9 0l-22.6-22.6c-9.4-9.4-9.4-24.6 0-33.9l96.4-96.4-96.4-96.4c-9.4-9.4-9.4-24.6 0-33.9L54.3 103c9.4-9.4 24.6-9.4 33.9 0l136 136c9.5 9.4 9.5 24.6.1 34z\"><\/path><\/svg><\/div><div id=\"elementor-tab-content-1893\" class=\"eael-accordion-content clearfix\" data-tab=\"3\" aria-labelledby=\"3-cosa-occorre-verificare-nella-scelta-dei-materiali-cigs\"><p>Verificare le specifiche relative alla forma, alla composizione e alla purezza del materiale richiesto, la documentazione di qualit\u00e0 disponibile, la tracciabilit\u00e0 dei lotti e la compatibilit\u00e0 con il processo di deposizione previsto. Confermare tutti i requisiti critici con il fornitore prima di effettuare l&#8217;ordine.<\/p>\n<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div><div class=\"eael-accordion-list\">\n\t\t\t\t\t<div id=\"4-meglio-scegliere-la-polvere-cigs-o-un-bersaglio-per-sputtering\" class=\"elementor-tab-title eael-accordion-header\" tabindex=\"0\" data-tab=\"4\" aria-controls=\"elementor-tab-content-1894\"><span class=\"eael-advanced-accordion-icon-closed\"><svg aria-hidden=\"true\" class=\"fa-accordion-icon e-font-icon-svg e-fas-plus\" viewBox=\"0 0 448 512\" xmlns=\"http:\/\/www.w3.org\/2000\/svg\"><path d=\"M416 208H272V64c0-17.67-14.33-32-32-32h-32c-17.67 0-32 14.33-32 32v144H32c-17.67 0-32 14.33-32 32v32c0 17.67 14.33 32 32 32h144v144c0 17.67 14.33 32 32 32h32c17.67 0 32-14.33 32-32V304h144c17.67 0 32-14.33 32-32v-32c0-17.67-14.33-32-32-32z\"><\/path><\/svg><\/span><span class=\"eael-advanced-accordion-icon-opened\"><svg aria-hidden=\"true\" class=\"fa-accordion-icon e-font-icon-svg e-fas-minus\" viewBox=\"0 0 448 512\" xmlns=\"http:\/\/www.w3.org\/2000\/svg\"><path d=\"M416 208H32c-17.67 0-32 14.33-32 32v32c0 17.67 14.33 32 32 32h384c17.67 0 32-14.33 32-32v-32c0-17.67-14.33-32-32-32z\"><\/path><\/svg><\/span><span class=\"eael-accordion-tab-title\">4. \u00c8 meglio scegliere la polvere CIGS o un bersaglio per sputtering?<\/span><svg aria-hidden=\"true\" class=\"fa-toggle e-font-icon-svg e-fas-angle-right\" viewBox=\"0 0 256 512\" xmlns=\"http:\/\/www.w3.org\/2000\/svg\"><path d=\"M224.3 273l-136 136c-9.4 9.4-24.6 9.4-33.9 0l-22.6-22.6c-9.4-9.4-9.4-24.6 0-33.9l96.4-96.4-96.4-96.4c-9.4-9.4-9.4-24.6 0-33.9L54.3 103c9.4-9.4 24.6-9.4 33.9 0l136 136c9.5 9.4 9.5 24.6.1 34z\"><\/path><\/svg><\/div><div id=\"elementor-tab-content-1894\" class=\"eael-accordion-content clearfix\" data-tab=\"4\" aria-labelledby=\"4-meglio-scegliere-la-polvere-cigs-o-un-bersaglio-per-sputtering\"><p>La scelta dipende dal metodo di deposizione, dalle attrezzature e dai requisiti di processo. La polvere CIGS e i bersagli per sputtering sono forme diverse dello stesso materiale e non devono essere considerati intercambiabili. Verificare le specifiche del prodotto prima di scegliere un materiale.<\/p>\n<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div><\/div>\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<div class=\"elementor-element elementor-element-83086bf elementor-widget elementor-widget-heading\" data-id=\"83086bf\" data-element_type=\"widget\" data-e-type=\"widget\" data-widget_type=\"heading.default\">\n\t\t\t\t<div class=\"elementor-widget-container\">\n\t\t\t\t\t<h2 class=\"elementor-heading-title elementor-size-default\">Bibliografia<\/h2>\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<div class=\"elementor-element elementor-element-c87e4f9 elementor-icon-list--layout-traditional elementor-list-item-link-full_width elementor-widget elementor-widget-icon-list\" data-id=\"c87e4f9\" data-element_type=\"widget\" data-e-type=\"widget\" data-widget_type=\"icon-list.default\">\n\t\t\t\t<div class=\"elementor-widget-container\">\n\t\t\t\t\t\t\t<ul class=\"elementor-icon-list-items\">\n\t\t\t\t\t\t\t<li class=\"elementor-icon-list-item\">\n\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t<span class=\"elementor-icon-list-text\">1. \u201cVuoti e disomogeneit\u00e0 compositive nei film sottili di Cu(In,Ga)Se\u2082\u201d. Science and Technology of Advanced Materials (2018).<\/span>\n\t\t\t\t\t\t\t\t\t<\/li>\n\t\t\t\t\t\t\t\t<li class=\"elementor-icon-list-item\">\n\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t<span class=\"elementor-icon-list-text\">2. Machkih, K., et al. \u201cUna rassegna sulla deposizione di semiconduttori a film sottile CIGS\u201d. Coatings, 14(9), 1088 (2024).<\/span>\n\t\t\t\t\t\t\t\t\t<\/li>\n\t\t\t\t\t\t<\/ul>\n\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t<div class=\"elementor-element elementor-element-895dc3f e-grid e-con-full e-con e-child\" data-id=\"895dc3f\" data-element_type=\"container\" data-e-type=\"container\">\n\t\t\t\t<div class=\"elementor-element elementor-element-09c0bc0 elementor-widget elementor-widget-eael-creative-button\" data-id=\"09c0bc0\" data-element_type=\"widget\" data-e-type=\"widget\" data-widget_type=\"eael-creative-button.default\">\n\t\t\t\t<div class=\"elementor-widget-container\">\n\t\t\t\t\t        <div class=\"eael-creative-button-wrapper\">\n\n            <a class=\"eael-creative-button eael-creative-button--default eael-cb-icon-position-\" href=\"https:\/\/ulpmat.com\/contact-us\/\" data-text=\"\">\n            \t    \n                <div class=\"creative-button-inner\">\n\n                    \n                    <span class=\"cretive-button-text\">Contattaci<\/span>\n\n                                    <\/div>\n\t                        <\/a>\n        <\/div>\n        \t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<div class=\"elementor-element elementor-element-c563e22 elementor-widget elementor-widget-eael-creative-button\" data-id=\"c563e22\" data-element_type=\"widget\" data-e-type=\"widget\" data-widget_type=\"eael-creative-button.default\">\n\t\t\t\t<div class=\"elementor-widget-container\">\n\t\t\t\t\t        <div class=\"eael-creative-button-wrapper\">\n\n            <a class=\"eael-creative-button eael-creative-button--default eael-cb-icon-position-\" href=\"https:\/\/ulpmat.com\/documents\/certificate-of-analysis\/\" data-text=\"\">\n            \t    \n                <div class=\"creative-button-inner\">\n\n                    \n                    <span class=\"cretive-button-text\">Altri materiali<\/span>\n\n                                    <\/div>\n\t                        <\/a>\n        <\/div>\n        \t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t","protected":false},"excerpt":{"rendered":"<p>Scopri come risolvere i problemi relativi ai difetti dei film sottili CIGS, tra cui variazioni nella composizione, fori, contaminazione e problemi di deposizione. 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